XTL-20S工业检测分析显微镜

一、仪器用途：

该仪器是由金相显微镜、显微专用成像系统及分析软件三部分组成的。通过显微镜观察切片内容，将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器，由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将图像传输给电脑，通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行分析处理，具有直观、形像测量范围宽等特点。该系列仪器广泛应用于金属学、矿物学、精密工程学等领域，也常用于检查多种器件和晶圆等方面。

二、仪器优势：

1、图像多种处理方法：影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度、亮度调节、颗粒定位、自动分割等几十种功能。

2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。

3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数，以线性或非线性统计方式绘出分布图。

4、采用三合一的形式，即显微镜、成像系统和分析软件三部分组合。三者结合了各自的优势，通过电脑将观察到的切片内容展示出来，形成图像观测清晰、操作便捷、结果准确的平台。

5、显微镜采用优良的无限远平场光学系统系统，提供卓越的光学性能。

6、显微成像系统具备600万真实物理像素分辩率3072*2048/30fps，提供高质量的图像，高分辨率和清晰度，使观察更为精确。

7、分析软件功能多样，对图像中的细胞进行分析和处理，数据的挖掘和可视化展示，可以更好得利用数据。

三、分析软件示意图：

三、主要技术参数