一、仪器用途:
该仪器是由偏光显微镜、显微专用成像系统及分析软件三部分组成的。通过显微镜观察切片内容,将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将图像传输给电脑,通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行分析处理,具有直观、形像测量范围宽等特点。该系列仪器广泛应用于地质、化工、医疗等领域,也常用于观察玻璃纤维等方面。
二、仪器优势:
1、图像多种处理方法:影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度、亮度调节、颗粒定位、自动分割等几十种功能。
2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。
3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性统计方式绘出分布图。
4、采用三合一的形式,即显微镜、成像系统和分析软件三部分组合。三者结合了各自的优势,通过电脑将观察到的切片内容展示出来,形成图像观测清晰、操作便捷、结果准确的平台。
5、显微镜采用优良的无限远平场光学系统系统,提供卓越的光学性能。
6、显微成像系统具备600万真实物理像素分辩率3072*2048/30fps,提供高质量的图像,高分辨率和清晰度,使观察更为精确。
三、分析软件示意图:
四、主要技术参数
仪器型号 | XPL-3230 | |
软件核心功能 | 图像分析、几何测量、图像拼接 | |
测量范围 | 0.1~3000(微米) | |
目镜 | 大视野 WF10X(Φ22mm) | |
物镜 | 无应力平场消色差物镜(无盖玻片),5X,10X,40X,60X | |
光学放大倍数 | 50-600倍 | |
系统总放大倍数 | 100-3000倍 | |
最大分辨率 | 0.1微米/像素 | |
重复性 | 误差≤±1% | |
自动分割速度 | ≤1秒 | |
数字摄像机有效像素 | 600万像素 | |
靶面尺寸 | 1/1.8〞 | |
像元尺寸 | 2.4 | |
白平衡 | 手动/自动 | |
曝光方式 | 手动/自动 | |
输出格式 | MJPEG/NV12 | |
显示帧率 | 3072*2048/30fps(MJPEG) | |
扫描方式 | 逐行扫描 | |
电子快门速度 | 1/60s~1/100000s | |
仪器净重 | 11kg | |
PC电脑选购 | 数据储存 | 主机(500G硬盘,23寸显示器) |
通信接口 | USB/网线/无线网 | |
操作系统 | Windows 10系统 |
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