PJ80半导体检查显微镜采用长工作距离复消色差APO物镜， 2X NA0 06 WD34, 5X NA0 15 WD45, 10X NA0 3 WD34, 20X NA0 3 WD31（可选50X物镜NA0 45,WD20 1和100X物镜NA0 80,WD6）。超长的工作距离带来更自由的操作空间。特别适合半导体探针，点墨，擦 拭，清洁等工站使用

PJ60-BD半导体检查显微镜全新采用半复消技术，集明场、斜照明、偏光等多种观察方式，任何观察下都 能呈现清晰锐利的显微图像，可根据实际应用，进行功能选择，是工业检 测的有效工具

PJ40半导体检查显微镜超高性价比的明场光学系统，采用全新半复消技术，集明场、斜照明、偏光等多种观察方式，任何观察下都能呈现清晰锐利的显微图像，可根据实际应用，进行功能选择，是工业检测的有效工具